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A Modified Model Dielectric Function for Analyzing Optical Spectra of InGaN Nanofilms on Sapphire Substrates

  • University of North Florida
  • Indiana University of Pennsylvania

Producción científica: Article › revisión exhaustiva

Idioma originalEnglish
Número de artículo485
PublicaciónNanomaterials
Volumen15
N.º7
DOI
EstadoPublished - mar 24 2025

ASJC Scopus Subject Areas

  • General Chemical Engineering
  • General Materials Science

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'A Modified Model Dielectric Function for Analyzing Optical Spectra of InGaN Nanofilms on Sapphire Substrates'. En conjunto forman una huella única.

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