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Edge-Controlled Mechanical Failure of Si and SiC Semiconductor Chips†

Producción científica: Articlerevisión exhaustiva

Idioma originalAmerican English
PublicaciónAdditional Conferences (Device Packaging, HiTEC, HiTEN, & CICMT)
Volumen2010
DOI
EstadoPublished - ene 1 2010
Publicado de forma externa

Disciplines

  • Materials Science and Engineering
  • Structural Engineering

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