Ir directamente a la navegación principal Ir directamente a la búsqueda Ir directamente al contenido principal

Local study of a double hetero-junction laser diode by apertureless Scanning Near-field Optical Microscopy

Producción científica: Conference articlerevisión exhaustiva

Idioma originalEnglish
Páginas (desde-hasta)492-493
Número de páginas2
PublicaciónProceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Volumen3749
EstadoPublished - 1999
Publicado de forma externa
Evento1999 18th Congress of the International Commission for Optics (ICO XVIII): Optics for the Next Millennium - San Francisco, United States
Duración: ago 2 1999ago 6 1999

ASJC Scopus Subject Areas

  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Condensed Matter Physics
  • Computer Science Applications
  • Applied Mathematics
  • Electrical and Electronic Engineering

Citar esto