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Local study of a double hetero-junction laser diode by apertureless Scanning Near-field Optical Microscopy

  • University of Technology

Producción científica: Conference article › revisión exhaustiva

Idioma originalEnglish
Páginas (desde-hasta)492-493
Número de páginas2
PublicaciónProceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Volumen3749
EstadoPublished - 1999
Publicado de forma externaSí
Evento1999 18th Congress of the International Commission for Optics (ICO XVIII): Optics for the Next Millennium - San Francisco, United States
Duración: ago 2 1999 → ago 6 1999

ASJC Scopus Subject Areas

  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Condensed Matter Physics
  • Computer Science Applications
  • Applied Mathematics
  • Electrical and Electronic Engineering

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Local study of a double hetero-junction laser diode by apertureless Scanning Near-field Optical Microscopy'. En conjunto forman una huella única.

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