Message from the Workshop Chairs MET 2017

Laura L. Pullum, Upulee Kanewala, Dave Towey, Chang Ai Sun, Marcio Eduardo Delamaro

Producción científica: Editorialrevisión exhaustiva

Idioma originalEnglish
Número de artículo7959834
Páginas (desde-hasta)vii
PublicaciónProceedings - 2017 IEEE/ACM 2nd International Workshop on Metamorphic Testing, MET 2017
DOI
EstadoPublished - jun 28 2017
Evento2nd IEEE/ACM International Workshop on Metamorphic Testing, MET 2017 - Buenos Aires, Argentina
Duración: may 22 2017 → …

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