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Quantification of octahedral rotations in strained LaAlO3 films via synchrotron x-ray diffraction

  • R. L. Johnson-Wilke
  • , D. Marincel
  • , S. Zhu
  • , M. P. Warusawithana
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  • , K. T. Delaney
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  • , P. J. Ryan
  • , S. Trolier-Mckinstry

Producción científica: Articlerevisión exhaustiva

Idioma originalEnglish
Número de artículo174101
PublicaciónPhysical Review B - Condensed Matter and Materials Physics
Volumen88
N.º17
DOI
EstadoPublished - nov 1 2013
Publicado de forma externa

ASJC Scopus Subject Areas

  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Condensed Matter Physics

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