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Thermal stability of electrical and structural properties of GaAs-based metal-oxide-semiconductor capacitors with an amorphous LaAl O3 gate oxide

  • S. Koveshnikov
  • , C. Adamo
  • , V. Tokranov
  • , M. Yakimov
  • , R. Kambhampati
  • , M. Warusawithana
  • , D. G. Schlom
  • , W. Tsai
  • , S. Oktyabrsky

Producción científica: Articlerevisión exhaustiva

Idioma originalEnglish
Número de artículo012903
PublicaciónApplied Physics Letters
Volumen93
N.º1
DOI
EstadoPublished - 2008
Publicado de forma externa

ASJC Scopus Subject Areas

  • Physics and Astronomy (miscellaneous)

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